Digital Seminar 2006

開催概要
Digital Seminar 2006
日時
※詳細の時間は下記を
ご参照ください。
2006年1月26日(木) 「オシロスコープ・ベーシック・セミナ」 【終了いたしました】
2006年1月27日(金) 「初心者の為のJitterセミナ」 【終了いたしました】
会場
弊社八王子事業所内会議室
会場アクセス
受 講 料 無料(事前申込制)
お申し込み方法 上記「日時」よりご登録下さい。
※同業者のお申し込みはご遠慮ください。
申込締切 定員になり次第締め切らせていただきます。
お早めにお申し込みください。
定 員 各セミナ50名
主 催 アジレント・テクノロジー株式会社 電子計測本部
お申し込みに関する
お問い合わせ先
アジレント・テクノロジー(株) セミナ事務局
お問い合わせ時間:月曜日~金曜日までの9:00~17:00(祭日を除く)
※会場での無断写真撮影および資料の無断転載は堅くお断りいたします。

「Digital Seminar 2006」 スケジュール

1月26日(木)の概要 「オシロスコープ・ベーシック・セミナ」
8月に ご好評いただいたセミナの再演になります。 評価ツールには最新ツールのアップ デートがございます。
13:00~13:30 受 付
13:30~14:30 GHz帯オシロスコープを正しく選択するために
 講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 坂田 健
高速シリアル通信を始めとして、データレートでGbpsを超える多くの規格がでてきています。 これらの規格は接続性を確立するために認証試験を設けており、規格の要求する水準の電気的性能を過不足なく最適な性能・コストで開発することが最重要の課題です。
本セッションでは、最適でかつ確実に性能を満たしているかどうかを評価するための評価系の考え方のポイントをご説明致します。
14:30~14:45 休 憩
14:45~15:30 オシロスコープ&プローブによる高速ディジタル信号の高精度測 定
 講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 岡崎 淳起
GHzを超える高速デジタル信号の正しい波形観測ニーズは、ますます高まっております。 不具合を発見するための重要なツールであるプローブは無くてはならないツールです。
本セッションではオシロスコープの基本性能の重要性に加え、プロービングによる波形への影響と、正しいプロービング方法についてデモを交えてご紹介します。
15:30~15:45 休 憩
15:45~16:15 高速シリアル通信のデバッグに必須となるSDA機能の紹介
 講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 依田 達夫
今後パラレル通信からシリアル通信への移行が進むにつれて、物理層の評価にはEye Pattern以外の評価方法を理解し、 デバッグ時には適切なアプローチによる問題解決を図る必要がございます。
本セッションではシリアル通信のデバッグに必須となる「Serial Data Analysis」機能の紹介と共にデバッグにおける種々のアプローチをご紹介いたします。
16:15~17:00 製品観覧
展示製品(予定)
・オシロスコープ等

1月27日(金)の概要 「初心者の為のJitterの基礎」
13:00~13:30 受 付
13:30~14:30 ジッタ解析手法の概要
 講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 山中 正樹
近年の高速ディジタル回路・システムにおいては、タイミング・マージンの減少を引き起こすジッタの解析は重要な測定項目の一つです。 各種の規格で、ジッタ値およびジッタ測定法が規定されていますが、不具合個所の切り分けには、ジッタ発生の要因や特性を十分に理解する必要があります。 本セッションでは、ジッタについての詳しい知識が必要不可欠となっている現在、ジッタ発生の要因・特性、ジッタ測定手法
の概要についてご紹介します。
14:30~14:45 休 憩
14:45~15:45 ジッタ測定に用いるオシロスコープの正しい選び方
 講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 山中 正樹
オシロスコープは、汎用的な測定器であると同時に、各種コンプライアンス試験にも用いられているため、 高速ディジタル信号の評価には不可欠な測定器となっています。信号が高速化するにつれ、 使用するオシロスコープの基本性能(クロック/トリガ、ノイズ、周波数特性など...)がアイパターンやジッタなどの波形評価に大きな影響を与えるため、 注意深くオシロスコープを選定する必要があります。 本セッションでは、オシロスコープを用いてジッタ解析する際に留意すべきポイントを実例をあげてわかりやすくご紹介します。
15:45~16:00 休 憩
16:00~16:45 正確かつ完全なジッタの特性評価
 講師:弊社 電子計測本部 マーケティング・エンジニア 矢野 伸一/中谷 達也
TJ(トータルジッタ)は、重要な測定項目でありながら、測定手法の違いによる結果の差異について深い論議はなく混乱の原因のひとつでした。 本セッションでは、規定量のジッタを正確に出力できる「標準ジッタ信号発生器」の開発の経緯と、 これによる評価結果から最も信頼できるジッタ測定結果を提供できるのは何かその根拠とともにご紹介します。
16:45~17:00 超低ランダムジッタ評価を可能にするシグナルソースアナライザのご紹介
 講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 大津谷 亜士
高速通信のクロック評価においてピコ秒以下のランダムジッタ計測要求が高まってきています。
しかし、ピコ秒以下のランダムジッタの測定は、従来の手法では非常に困難な測定でした。
相関法技術によりフェムト秒分解能のランダムジッタ測定を実現するシグナル・ソース・アナライザを、実測デモを交えてご紹介いたします。
17:00~17:30 製品観覧
展示製品(予定)
・86100C DCA-J広帯域オシロスコープ
・83496A クロック・リカバリ・モジュール
・N4901B シリアル・ビットレート・テスタ(BERT)
・N4903A ハイ・パフォーマンス・シリアル・ビットレート・テスタ(JBERT)
・DSO81204A 13GHzリアルタイム・オシロスコープ
・E5052A シグナル・ソース・アナライザ