Agilent「Digital Seminar 2006」

毎回、好評をいただいている「高速デジタル・セミナ」の拡大版として、お客様の関心の高い3つのテーマにおける技術セミナと関連測定器のデモ実演を3日間に渡って行います。会場は、アクセスのよい新宿にて開催いたします。満席が予想されますので、お早めにお申し込みください。

日時
※詳細の時間は下記を
ご参照ください。

2006年2月28日(火)	「多様なジッタ問題を解決する最新のジッタ評価方法」【終了いたしました】
3月1日(水)	「最新の高速差動伝送路の評価とシグナル・インテグリティ技術」【終了いたしました】
3月2日(木)	「これから始めるPCI Express機器開発の勘所」【終了いたしました】

会場

エステック情報ビル 21階会議室
住所：東京都新宿区西新宿1-24-1
TEL：03-3342-3511
アクセス：JR新宿駅西口より徒歩5分（工学院大学ビル隣接）

受講料

無料（事前申込制）

お申し込み方法

上記「日時」よりご登録下さい。
※同業者のお申し込みはご遠慮ください。

申込締切

2/24（金）を予定しておりますが満席になり次第、締め切らせていただきますのでお早めにお申込みください。

主　催

アジレント・テクノロジー株式会社　電子計測本部

お申し込みに関する
お問い合わせ先

アジレント・テクノロジー（株）セミナ事務局
お問い合わせ時間：月曜日～金曜日までの9：00～17：00（祭日を除く）

２月２８日（火）の概要 「多様なジッタ問題を解決する最新のジッタ評価方法」

12:30～13:00	受付
13:00～13:45	ジッタ解析手法の概要と基礎　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　山中正樹近年の高速デジタル回路・システムにおいては、タイミング・マージンの減少を引き起こすジッタの解析は重要な測定項目の一つです。各種の規格で、ジッタ値およびジッタ測定法が規定されていますが、不具合個所の切り分けには、ジッタ発生の要因や特性を十分に理解する必要があります。本セッションでは、ジッタについての詳しい知識が必要不可欠となっている現在、ジッタ発生の要因・特性、ジッタ測定手法の概要についてご紹介します。
13:45～13:55	休　憩
13:55～14:45	ジッタ測定に用いるオシロスコープの正しい選び方　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　山中正樹オシロスコープは、汎用的な測定器であると同時に、各種コンプライアンス試験にも用いられているため、高速デジタル信号の評価には不可欠な測定器となっています。信号が高速化するにつれ、使用するオシロスコープの基本性能(クロック/トリガ、ノイズ、周波数特性など)がアイパターンやジッタなどの波形評価に大きな影響を与えるため、注意深くオシロスコープを選定する必要があります。本セッションでは、オシロスコープを用いてジッタ解析する際に留意すべきポイントを実例をあげてわかりやすくご紹介します。
14:45～14:55	休　憩
14:55～15:55	正確かつ完全なジッタの特性評価　講師：弊社　電子計測本部マーケティング・エンジニア　矢野伸一 TJ(トータルジッタ)は、重要なジッタ測定項目でありながら、測定手法の違いによる結果の差異について深い論議はなく混乱の原因のひとつでした。本セッションでは、規定量のジッタを正確に出力できる「標準ジッタ信号発生器」の開発の経緯と、これによる評価結果から最も信頼できるジッタ測定結果を提供できるのは何かその根拠とともにご紹介します。
15:55～16:05	休　憩
16:05～16:45	迅速かつ正確なジッタ・トレランス試験の提案　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　竹嶋茂樹最新の高速シリアル・バスの評価では、既定のジッタが印加された“崩れた波形”を加えても正常な動作、すなわち誤りのない伝送が行われることを確認する「ジッタ・トレランス試験」が重要になっています。従来、様々な種類のジッタを組み合わせて発生させ、またその各々のジッタ量を校正するのは容易ではなく、迅速かつ正確な測定を行なう上で非常に問題となっていました。本セッションでは、校正されたジッタが容易に発生でき、ジッタ・トレランス試験を驚くほど簡単に実現する高性能シリアル・ビット誤り率テスタ（N4903A）を、実演を交えてご紹介いたします。
16:45～17:15	フェムト秒(fs)分解能の超低ランダム・ジッタ評価方法　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　大津谷亜士高速通信のクロック評価においてピコ秒以下のランダム・ジッタ計測要求が高まってきています。しかし、ピコ秒以下のランダム・ジッタの測定は、従来の手法では非常に困難な測定でした。本セッションでは、相関法技術によりフェムト秒分解能のランダム・ジッタ測定を実現するシグナル・ソース・アナライザを、実測デモを交えてご紹介いたします。
17:15～17:40	製品観覧展示製品（予定）・86100C　DCA-J広帯域オシロスコープ・83496A　クロック・リカバリ・モジュール・N4903A　高性能シリアル・ビット誤り率テスタ(J-BERT) ・DSO81304A　13GHzリアルタイム・オシロスコープ・E5052A　シグナル・ソース・アナライザ

※今年1月に好評をいただいたセミナの再演になりますが、一部は、最新情報にアップデートしてご紹介いたします。
※講師および講演内容は事情により変更になる場合がございます。

３月１日（水）の概要 「最新の高速差動伝送路の評価とシグナル・インテグリティ技術」

12:30～13:00	受付
13:00～14:30	高速差動伝送信号の基礎と評価技術　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　陰浦俊則デジタル機器や通信ネットワークの高速化を実現するPC ボードやケーブルといった伝送媒体の設計、測定、評価は、高速化を実現するための重要な要素として注目を集めています。本セッションは、これら伝送媒体を設計、評価される方を対象として、高速化で具現化する問題の認識および差動伝送信号の基礎について触れ、時間領域と周波数領域での評価手法の比較、また、評価検討する際の最新ツールについてご紹介します。
14:30～15:00	製品紹介デモ・86100Cオプション202 TDRによるSパラメータ測定機能・N5230A　20GHz・4チャネルVNAによる平衡線路（差動線路）評価機能
15:00～15:20	休　憩
15:20～16:20	計測器を活用した高速信号対応プリント基板の実現方法　講師：アイカ工業株式会社　電子カンパニー開発課長　田中顕裕様 PCI-ExpressやシリアルATAなど、汎用インタフェースの伝送速度がシリアル1Gbpsを超えるようになり、これに対応したプリント配線板を低価格・短納期に実現する要求が高まっています。高速化対応プリント配線板の設計・製造・コンサルティングを手掛けるアイカ工業が、測定をベースとした高速差動伝送の実験例を交えながら、インピーダンス制御スルーホールなどシステム設計者や基板設計者の役に立ちそうな高速差動配線の設計技術・特性評価例を紹介します。
16:20～17:20	差動伝送信号のシミュレーションと実測のギャップの埋め方　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　青木秀樹近年高速デジタルギガビット伝送システムの設計においても高周波設計技術が必要とされ、試作前に伝送線路の特性をシミュレーションする必要があります。アジレント/図研/AETジャパンの3社は、それぞれの製品を組合わせて、シグナル・インテグリティ問題を解決するソリューションを構築しました。本セッションでは、ADS（RFシミュレータ）、CR5000 SD/BD（PCB設計環境）、MW－Studio（3D電磁界解析）をリンクし、高精度にモデリングされたコネクタ、伝送線路等を経由した高速デジタル信号がレシーバ側に到達した波形の評価例や、実測値を効果的に用い効率的な設計／検証手法を紹介いたします。
17:20～17:40	製品観覧展示製品（予定）・86100C+54754A　DCA-J広帯域オシロスコープ/差動TDRモジュール・N5230A　20GHz　4チャネル　ベクトル・ネットワーク・アナライザ・ADS　高周波シミュレータ

※昨年８月に好評を頂いたセミナの再演になりますが、展示製品・評価ツールは最新情報にアップデートしてご紹介いたします。
※講師および講演内容は事情により変更になる場合がございます。

３月２日（木）の概要 「これから始めるPCI Express機器開発」

12:30～13:00	受付
13:00～13:05	「セミナ開催にあたって」
13:05～13:55	PCI Express IPコアの選定、転送レートを引き出すポイント　講師：株式会社図研　SoC事業部　デザインセンター IPシステム設計課課長　安藤弘敬様 PCI Expressコアは規格に準拠していること、接続性が確立していること、そして、転送レートのパフォーマンスを最大限に引き出すことが重要です。パフォーマンスという観点では、PCI Express論理層の設定、システム面での考慮が必要であり、転送レートを向上させるための有効な手段、コア構成に関して、IPコアの選定ポイントを交えながら解説いたします。
13:55～14:35	ギガビット伝送プリント基板設計におけるコツ・勘所　講師：沖プリンテッドサーキット株式会社　デザインソリューション部　回路技術チーム　八木貴弘様 PCI Express をはじめとしたギガビット伝送をターゲットにしたプリント基板設計では、従来問題にならなかった伝送線路の不連続、損失の考慮が必要となります。基板仕様・配線仕様の最適化、および配線設計時に押さえておくべきポイントを、実際の基板設計で直面する事例を交えながらご紹介します。
14:35～14:55	休　憩
14:55～15:40	PCI Expressの物理層評価　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　荒井信隆本セッションでは、近々PCI Express搭載機器の開発を開始される方々を対象に、 PCI Express信号波形評価の基礎を解説します。代表的な評価項目について、測定例を交えながら説明します。コンプライアンス・テストの概要についてもご紹介します。
15:40～15:55	休　憩
15:55～16:40	PCI Expressの論理層評価　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　里見尚志本セッションでは、これからPCI Express搭載機器を開発される方々を対象に、PCI Expressの論理およびプロトコル層評価の基礎を解説します。重要なポイントとなるプロービングの手法、測定器の種類と開発における最適な選択方法を説明します。また、コンプライアンス・テストの概要をご紹介します。
16:40～17:10	PCI Expressコンプライアンステストについて　講師：アリオン株式会社　営業部　川崎しのぶ様アリオンでは2005年10月末よりPCI-SIG認可のもと、PCI Express コンプライアンステスト実施が可能となりました。これは年数回開かれるWork Shopと同様の扱いとなります。世界最初のPCI Express認証ラボとして、お客様の製品の検証を最小限の時間にて、テストと品質保証をご提供いたします。
17:10～17:30	製品観覧展示製品（予定）・DSO81204A ・E2960A ・16902A/N4220B PCI Express