日時 ※詳細の時間は下記を ご参照ください。 2006年3月27日（月） 「SATAセミナ」 【終了いたしました】 会場 弊社八王子事業所内会議室 → 会場アクセス 受 講 料 無料（事前申込制） お申し込み方法 上記「日時」よりご登録下さい。 ※同業者のお申し込みはご遠慮ください。 申込締切 2/24（金）を予定しておりますが満席になり次第、締め切らせていただきますのでお早めにお申込みください。 定　員 50名 主　催 アジレント・テクノロジー株式会社　電子計測本部 お申し込みに関する お問い合わせ先 アジレント・テクノロジー（株） セミナ事務局 お問い合わせ時間：月曜日～金曜日までの9：00～17：00（祭日を除く） ※会場での無断写真撮影および資料の無断転載は堅くお断りいたします。 ３月２７日（月）の概要 「SATAセミナ」 12月にご好評いただいたセミナの再演になります。評価ツールには最新ツールのアップデートがございます。 13:00～13:30 受 付 13:30～14:15 SATAコンプライアンステスト 　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　坂田 健 近年ディスクドライブの家電や情報機器への普及に伴い、高速化が進んでいます。従来ATAバスに接続していたあらゆるストレージデバイスは、Serial ATA への移行意欲が強まっています。SerialATAはすでに1.5G bps のGen I 製品が広く普及しており、3Gbps のGen II も採用され始めております。 本セッションでは　Serial ATA Gen1/Gen2 のCompliance Test を行う上で重要な信号品質テストを始め、デバッグにおいて重要となるオシロのクロックリカバリ機能、 クロックリカバリから派生される８B/10Bでコーディング機能やReal Time Eye、Jitter評価などについてご紹介いたします。 14:15～14:30 休　憩 14:30～15:00 SATA PlugFest#6 Interop Workshop#1 Update 　講師：弊社　電子計測本部アプリケーション・エンジニア　坂田 健 2006年2月SATA-IOによって実施されましたSATA　Plugfest#6およびSATA規格史上初めてのLogo認証となったInterop　Workshop＃１からCompliance Testに関するUpdateと、今後の動向についてご紹介いたします。 15:00～15:30 製品観覧 展示製品（予定） ・オシロスコープ等