シリアルATA最新規格動向とアジレント物理層測定ソリューション

開催概要
シリアルATA最新規格動向とアジレント物理層測定ソリューション
PCをはじめ、ハードディスク、光学ドライブは近年情報家電などあらゆる分野に使用されています。
インタフェースも従来のPATAからSerial ATA(SATA)へ移行が加速しており、ストレージデバイスを扱う上でSATAは避けて通ることができないアプリケーションとなりました。
SATA規格の基礎から、シリアル通信化されたことで求められる信号品質の問題をどのように考える必要があるのか、SATA最終製品に求められる物理層コンプライアンス試験を軸に、システムインテグレーションにおけるハードウェアDebug事例の紹介をデモンストレーションを交え、4セッションにて解説いたします。
日 時
※詳細の時間は下記を
ご参照ください。
2007年 7月31日(火) 13:40~17:30   【終了いたしました】
会場 弊社八王子事業所
  住所: 東京都八王子市高倉町9番1号
  交通: JR八高線「北八王子」下車徒歩1分
会場アクセス

*八高線でお越しの際は本数が少ないため事前に時刻表をご確認ください。
受 講 料 無料(事前申込制)
お申し込み方法 上記「日時」よりご登録下さい。
※同業他社のお申し込みはご遠慮ください。
申込締切 定員になり次第締め切らせていただきます。
お早めにお申し込みください。
定 員 50名
主 催 アジレント・テクノロジー株式会社 電子計測本部
お申し込みに関する
お問い合わせ先
アジレント・テクノロジー(株) セミナ事務局
お問い合わせ時間:月曜日~金曜日までの9:00~17:00(祭日を除く)
e-mail:agilent@cgc.co.jp
※会場での無断写真撮影および資料の無断転載は堅くお断りいたします。

「シリアルATA最新規格動向とアジレント物理層測定ソリューション」 スケジュール
13:15~13:40 受 付
13:40~14:10
セッション1  「SATAの基礎と最新規格のアップデート」
講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニアリング部 岡崎 淳起

UTD1.2に向けた最新のSATAの規格を、以前との変更点と注意点を盛り込みご紹介いたします。その中で、コンプライアンス試験の位置づけと概要について解説いたします。また、SATAの物理層試験の基礎をご紹介することで、SATAに求められている技術の全体像を把握していただけます。
14:10~14:20 休 憩
14:20~15:10
セッション2  「SATA トランスミッタ信号品質試験」
講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニアリング部 岡崎 淳起

トランスミッタ側に求められるSATAの規格とそれに基づいたコンプライアンス試験の内容、それらを実現する弊社のソリューションを紹介し、信号品質試験と、波形デバッグ、そして、それを実現するためのオシロスコープの選定の重要点について解説いたします。
15:10~15:30 休 憩
15:30~16:10
セッション3  「SATA TDR試験」
講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニアリング部 坂田 健

ビットレートが高速になるにつれ、反射の影響が無視できない状況になっています。しかし、意外と見落とされがちでかつ重要な試験がTDR試験です。本セッションでは、SATAに求められるTDR試験と、実測例について解説いたします。
16:10~16:20 休 憩
16:20~17:00
セッション4  「SATA レシーバのジッタ・トレランス試験」
講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニアリング部 坂田 健

UTD1.2で新たに必須試験項目として追加されたレシーバのジッタ・トレランス試験について、規格の最新動向と、RSG試験を正確にかつ迅速に試験する方法を解説いたします。特に、規格試験だけでは分からない問題を解決する、ジッタ・トレランス・カーブの重要性を解説することで、求められる試験の本質をご理解いただけます。
17:00~17:30
展示製品観覧時間(プロダクトフェア)

■展示予定製品
  • DSO80000シリーズ オシロスコープ、他
  • 16800シリーズ ロジック解析システム、プローブ、他
  • 86100C/54754A TDR測定システム