| 12:30～ |
受 付 |
| 13:00～13:20 |
| 開会の挨拶 DigRFでの解析ポイント |
| 弊社 電子計測本部マーケティングセンタ 堀部 勝義 |
3G端末向けにDigRFの新たな仕様の策定(v3.xx)が進んでいます。v3.xxは、従来のv.1.12よりも信号線が少なくなり高速化される予定です。
このためRF・デジタル物理層・デジタル論理層の全ての評価が求められてきます。
アジレントならではのDigRFのRF・高速デジタル統合ソリューションをベースにDigRF v3.xxの重要な解析のポイントについてご紹介します。 |
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| 13:20～14:20 |
| RFエンジニア向け、高速差動信号の、シグナルインテグリティ入門 |
| 講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 陰浦 俊則 |
このセミナでは、RFエンジニアにとって馴染みの少ないデジタル信号の測定と評価を、DigRFの高速差動伝送を例に取り、
RFから見たデジタル信号の基礎から、インピーダンスやジッタ、アイパターン測定など物理層におけるシグナルインテグリティ評価の概要を解説します。
また信号が高速化してくると顕在化してくるプローブなどの測定系が与える影響について、
デジタル信号測定に欠かせないオシロスコープを例にご紹介します。 |
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| 14:20～14:30 |
休憩 |
| 14:30～15:30 |
| Digital IQとAnalog RFにおける信号発生とEVM/BER測定手法 |
| 講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 森下 幹夫 |
DigRFのようなDigital I/Fの障害解析においては、Digital IQ信号を
Analog RF信号の場合と同様にEVMやBER等の観点で観測・比較できることが重要になります。
本セミナではDigital変調信号の評価に使用できるDigitalとRFの計測器群を紹介すると共に、
それらを組み合わせた構成例やDelay測定の手法について紹介します。 |
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| 15:30～15:40 |
休憩 |
| 15:40～16:40 |
| DigRF解析手法紹介 |
| 講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 大谷 卓也 |
本セミナでは、広帯域オシロスコープDSO80000Bシリーズを使ったDigRFパケットに対する物理層解析、
および、16800/900シリーズロジックアナライザのDigRFプロトコル解析機能を使った、
DigRFのデジタル物理層に対する効果的な解析・デバッグ手法をご紹介します。
また、N4850A DigRFアクイジション・プローブを使用して、パケット中のデジタルI/Qを元にWCDMAの変調解析手法や、
312MbpsのシリアルDigRFパケットをアジレントN4860A DigRFスティミュラス・プローブを使ってRFICやBBICへ与える方法について解説します。
これら製品を使う事により、FPGAなどで専用の治具等を用意する必要なしにDigRFデバッグ・解析を行うことが可能となります。 |
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| 16:40～17:00 |
| Q&A プロダクトフェアー |
オシロスコープ（InfiniiScan DigRFパケットトリガ、EYEPATTERN、EASYJITT）
オシロスコープ・ロジックアナライザ プローブ各種
ADS、89601A、SignalStudioなど
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