EMI 測定セミナ

ご挨拶
 

拝啓
平素は格別のお引き立てを賜り厚く御礼申し上げます。
さて、この度弊社では、EMI対策やEMI最終試験に携わるエンジニアの方を対象に、 「Agilent EMI測定セミナ」を開催する運びとなりましたのでご案内申し上げます。
近年の電子機器の高速化・高周波化にともないEMI対策の重要性は年々増してきております。ITEやマルチメディア機器、自動車などのノイズ規制はより高周波に進んでおり、またより厳しいノイズ規制が要求されています。対策設計においては最終試験に入る前段階でどこまで問題を特定できるかが鍵であり、半導体や基板レベルでのノイズ対策が重要視されてきています。
このような背景の中、本セミナではEMI測定の基本的なツールであるスペクトラムアナライザの使用方法、また半導体や基板レベルでの対策、そして最終試験というEMI測定における基本的なスキルから実践的な測定技術を紹介することで、お客様の製品開発期間短縮に貢献することを目的としております。時節柄ご多忙のこととは存じますが、万障お繰り合わせの上、ご来場賜りますようお願い申し上げます。

敬具

アジレント・テクノロジー株式会社
電子計測本部マーケティングセンタ長
伊藤 由朗



ご来場プレゼント
ご来場頂いたお客様には、好評を頂いている弊社資料
「スペクトラム解析の基礎」をもれなく差し上げます。
スペクトラム解析の基礎


開催概要
EMI 測定セミナ
日 時 / 会場
※詳細の時間は下記を
ご参照ください。
【名古屋会場】    【終了いたししました】
2007年9月5日(水)  名古屋国際センタービル 「ホール」
  住所: 愛知県名古屋市中村区那古野1丁目47番地1号
  交通: JR「名古屋」、名鉄「名鉄名古屋」、近鉄「名古屋」、地下鉄「名古屋」駅から徒歩7分
地下鉄桜通線 国際センター駅下車すぐ上
会場アクセス

【大阪会場】     【終了いたししました】
2007年9月11日(火)  ニッセイ新大阪ビル 「会議室」
  住所: 大阪府大阪市淀川区宮原3-4-30ニッセイ新大阪ビル13階
  交通: JR・地下鉄「新大阪」駅より徒歩2分
会場アクセス

【横浜会場】     【終了いたししました】
2007年9月14日(金)  パシフィコ横浜 会議センター5F「502」
  住所: 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1
  交通: JR線・市営地下鉄線「桜木町」駅より徒歩12分
みなとみらい線「みなとみらい」駅より徒歩3分
会場アクセス
受 講 料 無料(事前申込制)
お申し込み方法 上記「日時」よりご登録下さい。
※同業社からのお申込みはご遠慮願います。
申込締切 定員になり次第締め切らせていただきます。
お早めにお申し込みください。
定 員 定員になり次第締め切らせていただきます。
主 催 アジレント・テクノロジー株式会社 電子計測本部
お申し込みに関する
お問い合わせ先
アジレント・テクノロジー(株) セミナ事務局
お問い合わせ時間:月曜日~金曜日までの9:00~17:00(祭日を除く)
e-mail:agilent@cgc.co.jp
※会場での無断写真撮影および資料の無断転載は堅くお断りいたします。

「EMI 測定セミナ」 スケジュール
13:00~ 受 付
13:30~14:30
Session 1  「スペクトラムアナライザの基礎とEMC測定」
講師:弊社 電子計測本部マーケティングセンタ 草薙 仁

EMI測定エンジニアにとってもっとも基本的なツールはスペクトラム・アナライザです。スペクトラム・アナライザは設計段階でのチェックから最終試験までさまざまなEMI設計ステージにおいて使用されますが、その構造や動きを正しく理解しなければ正しい測定結果を得ることができません。
このセッションではまず古典的なスーパーヘテロダイン方式を使用したスペクトラム・アナライザの構造からその測定原理、ディテクターの違い、そして正しい値を得るための測定方法に言及します。また最近のスペアナはIFセクションがディジタル化され、古い構造のスペアナに比べて確度、速度など大幅な改善が得られるようになっています。これらの最新のスペアナの利点をPSAシリーズやMXAシリーズなどを例に挙げて紹介いたします。
14:30~14:40 休憩
14:40~15:40
Session 2  「ノイズ可視化システムの活用方法について」
講師:NECエンジニアリング株式会社 営業本部 モジュール営業部 小林 勝治様

近年の電子機器は、小型化、高速化、高機能化が進んでおりさまざまなノイズ問題に対して、その解決策が検討されています。
その手段として、磁界プローブによるノイズ品質の確認(IEC61967-6)や磁界スキャナシステムによるノイズ発生源の特定・問題箇所の確認は現在さまざまな市場で活用されており、ノイズ対策、品質確認において非常に注目されています。
今回本セミナーでは、磁界プローブおよび磁界スキャナシステムの使用方法のご紹介、また測定結果に対しての解析・考察方法などを測定事例からご紹介いたします。
15:40~15:50 休憩
15:50~16:50
Session 3  「PSAベース EMIレシーバの特長と操作・測定手法」
講師:弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア 池原 司益

PSAをベースとしたEMIレシーバ・システムは、CISPR16-1-1の要求を満足する測定器とし2007年6月にリリースしました。このスペクトラム・ アナライザをベースとしたEMIレシーバ・システムは、対策から規格に基づく最終試験に至るまで、高速で信頼性の高い結果を提供する測定器です。スペクトラム・アナライザは汎用測定器として多く使用されますが、ことEMI測定となると誤操作を導いているケースも少なくありません。本セッションでは正確で信頼性の高い結果を得られる事を目的としレシーバの特長と操作・測定手法をご紹介します。