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拝啓 平素は格別のお引き立てを賜り厚く御礼申し上げます。
さて、この度弊社では、EMI対策やEMI最終試験に携わるエンジニアの方を対象に、 「Agilent EMI測定セミナ」を開催する運びとなりましたのでご案内申し上げます。
近年の電子機器の高速化・高周波化にともないEMI対策の重要性は年々増してきております。ITEやマルチメディア機器、自動車などのノイズ規制はより高周波に進んでおり、またより厳しいノイズ規制が要求されています。対策設計においては最終試験に入る前段階でどこまで問題を特定できるかが鍵であり、半導体や基板レベルでのノイズ対策が重要視されてきています。
このような背景の中、本セミナではEMI測定の基本的なツールであるスペクトラムアナライザの使用方法、また半導体や基板レベルでの対策、そして最終試験というEMI測定における基本的なスキルから実践的な測定技術を紹介することで、お客様の製品開発期間短縮に貢献することを目的としております。時節柄ご多忙のこととは存じますが、万障お繰り合わせの上、ご来場賜りますようお願い申し上げます。
敬具
アジレント・テクノロジー株式会社 電子計測本部マーケティングセンタ長 伊藤 由朗 |