Agilent「ファイバーオプティクスEXPO　FOE2008」

拝啓
平素は格別のお引き立てを賜り、厚くお礼申し上げます。
このたび、弊社では、「ファイバーオプティクスEXPO（FOE）2008」に出展する運びなりましたので、ここにご案内申し上げます。

弊社では、「Premier Measurement Company」を命題に、研究開発から製造・設置・保守までの幅広い計測ソリューションをグローバルなサポートで提供させて頂いております。今回の出展では、「NGN(次世代ネットワーク)を支える先進のテスト・ソリューション」をテーマに、広範で高度なフォトニック測定ソリューション、ますます高速化・多様化する光トランシーバおよびシステムにおける最新の測定ソリューションを多数展示・実演いたします。
時節柄ご多用のこととは存じますが、万障お繰り合わせのうえ、弊社ブースまでご来訪賜りますようお願い申し上げます。

敬具

2007年11月吉日
アジレント・テクノロジー株式会社
電子計測本部マーケティングセンタ長
伊藤　由朗

日時	2008年1月16日(水)～18日(金) 10:00～18:00 (18日(金)のみ17:00終了)
会場	東京ビッグサイト
入場料	当日：\5,000 ⇒ 招待券申込（無料）
出展ブース
お問い合わせ先	フリーダイアル : 0120-421-345 E-mail : contact_japan@agilent.com

「NGNを支える先進のテスト・ソリューション」

>> 次世代ネットワーク（NGN）テスト・ソリューション

>> 光トランシーバ/次世代PONテスト・ソリューション

■次世代ネットワーク（NGN）テスト・ソリューション

偏波解析にアジレントの新しいランナップ
N7780Aシリーズ光偏波アナライザ・ファミリ

DOP等の偏波解析から光偏波の制御・測定など革新的な製品を提供するadaptif社の買収によって、広範な光デバイス評価を提案します。

妥協なき測定確度とスピードを、分散・ロスすべてのパラメータで実現
86038A フォトニック分散/ロス・アナライザ

業界標準である変調位相シフト法（MPS）を用いた分散(CD/PMD)測定と、ミューラ法を用いた偏波依存性測定を融合した究極のアナライザ。

NGN機器試験に最適なプロトコル＆パフォーマンス試験
N2X　マルチサービス・テスト・ソリューション

イーサネットOAM試験やトリプルプレイ・サービスに不可欠なIPTV試験等のプロトコルおよびパフォーマンス試験を柔軟に提供します。

FPGAの内部ノードとアナログ波形を同時に確認
MSO8104A ミックスド・シグナル・オシロスコープ

通信機器内で多用されているFPGA内部ノードと周辺回路およびアナログ波形を同時に確認できる“FPGAスコープ”でデバッグ時間を大幅に短縮。

■光トランシーバ/次世代PON テスト・ソリューション

850nm対応光コンポーネントの完璧なＳパラメータ測定
N4376B　光コンポーネント・アナライザ

光コンポーネントの周波数特性や帯域幅を測定する、N437xシリーズLCAの最新モデル。波長850nm、マルチモードファイバに対応します。

高速・小型・低価格な光トランシーバ試験を実現
N2100Bシリーズ　PXIT光トランシーバテスト・ソリューション

DCA(光オシロ）とBERT等をPXIモジュールにより同一筐体で構築。コンパクトで低価格な光トランシーバ試験を提供します。

正確で再現性の高いストレスド・アイ測定を実現
N4917A 光レシーバ・ストレス試験ソリューション

N4903A J-BERTによる高い信頼性のジッタ印加とトレランス試験機能と、高忠実度の光トランスミッタ、独自の校正手法を統合したこれからの標準器です。

次世代のPON測定をいち早くサポート
10GE-PONテスト・ソリューション（参考出品）

IEEE 802.3avとして規格化が進む10GE-PONの測定システムをいちはやくご提供いたします。

ここでは語れない、新製品も目白押し。ぜひアジレント・ブースにお立ち寄りいただき、
最新のソリューションをお客様の目でご確認ください。