日　時 ※詳細の時間は下記を ご参照ください。 1月30日（火）  【終了いたしました】 会場 弊社八王子事業所   住所： 東京都八王子市高倉町9番1号   交通： JR八高線「北八王子」下車徒歩1分 → 会場アクセス 受 講 料 無料（事前申込制） お申し込み方法 上記「日時」よりご登録下さい。 ※同業者のお申し込みはご遠慮ください。 申込締切 定員になり次第締め切らせていただきます。 お早めにお申し込みください。 主　催 アジレント・テクノロジー株式会社　電子計測本部 お申し込みに関する お問い合わせ先 アジレント・テクノロジー（株） セミナ事務局 お問い合わせ時間：月曜日～金曜日までの9：00～17：00（祭日を除く） ※会場での無断写真撮影および資料の無断転載は堅くお断りいたします。 HDMI version1.3a規格に対応したコンプライアンス試験を、 簡単かつ迅速に行うアジレントのテスト・ソリューションを、 デモ実演を中心に詳しくご紹介いたします。 合わせて、開発やトラブルシュート等で要求される細微に至るテストを柔軟に行うための 卓越した機能を具体的にご紹介いたします。 12月15日弊社主催で行った「HDMI ver1.3セミナ」は大変多くのお客様から高い評価をいただき無事終了いたしました。 弊社テスト機器についてより詳しく確認したい、測定が実際にどのように行われるのかを詳しく理解したい、というお客様にぜひご参加いただきたいコースです。 13:00～13:30 受 付 13:30～14:30 「ソース機器のテスト・ソリューション」 講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア　 今岡 淳 講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア　 長嶺 銀河 ソース機器の高速電気信号評価では、オシロスコープのノイズ性能、波形再現性等の基本性能が重要です。 本セッションでは、アジレントの最新オシロスコープを用いたソース機器の波形品質評価テストについて、 その優れた測定精度、測定効率および高度な解析機能について実機デモを通じて詳しくご紹介します。 14:30～15:00 「DDRメモリ、FPGAデバイスの効率よい評価法について」 講師：弊社 マーケティングセンター　 関野 敏正 DDRメモリバスのRead/Write抽出等、オシロスコープによる波形解析において革新的なトリガ機能“InfiniScan” ならびにFPGAの評価に最適な“ソフトタッチ・プローブ”など、 弊社のオシロスコープならびにロジック・アナライザの最新機能をわかりやすくご紹介します。 15:00～15:10 休憩 15:10～16:10 「シンク機器のテスト・ソリューション」 講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア　 今岡 淳 講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア　 長嶺 銀河 シンク機器測定では正確に制御されたジッタ信号を生成することのできるTMDSシグナル・ジェネレータが必要になります。 本セッションでは、アジレントTMDSジェネレータおよびオシロスコープによるシンク機器測定ソリューションを、実機デモを通じて詳しくご紹介します。 16:20～17:00 「ケーブル等のテスト・ソリューション」 講師：弊社 電子計測本部　マーケティング・センタ　 蓑和 浩 HDMIケーブルの4つのラインの特性を効率よく測定するネットワーク・アナライザ、 スキュー測定およびシンク機器のインピーダンス測定を正確に行えるTDR測定セットについてご紹介します。 展示・デモ予定 DSO81304B　Infiniiumオシロスコープ   N5399A HDMIコンプライアンス・テストソフトウェア E4887A TMDSシグナル・ジェネレータ   N5990A自動測定ソフトウェア E5071C ベクトル・ネットワーク・アナライザ 86100C/54754A 差動インピーダンス・Skew測定TDRセット