拝啓
晩秋の候、時下ますますご清栄のこととお喜び申しあげます。また平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申しあげます。
さて、この度弊社では、来る11月29日（木）、30日（金）にAgilent+Microwave Testセミナ開催の運びとなりましたので、ご案内申しあげます。
マイクロ波技術の発展はとどまるところを知らず、そのアプリケーションもますます広がっております。
お客様のビジネス、最先端の技術開発をより深く支えることができるよう、弊社の幅広いマイクロ波計測ソリューションも進化し続けております。
本セミナでは同時期に開催されるマイクロウェーブ展２００７の弊社、およびパートナーブースの展示ソリューションから注目のソリューションをピックアップし、より詳細な技術情報をご提供させていただきます。
今回のセミナでは、RF,マイクロ波帯における最新のNF測定、パルスドSパラメータ測定法、モバイルWiMAXの最新規格動向や測定方法、測定器の使用ノウハウ、高周波プロービングのノウハウ、材料測定ソリューションなどパートナー企業の技術セミナも交えて、幅広く紹介させて頂きます。なお、本セミナはセッション毎のお申し込みになりますので、MWE見学の合間にご興味のセッションに参加いただけます。
時節柄ご多忙のこととは存じますが、万障お繰り合わせの上、ご来場賜りますようお願い申しあげます。

敬具

アジレント・テクノロジー株式会社
電子計測本部マーケティングセンタ長
伊藤　由朗