Agilent 「RADAR & MICROWAVE TEST SYMPOSIUM 2007」

拝啓
平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。この度弊社では、「RADAR & MICROWAVE TEST SYMPOSIUM 2007」を開催する運びとなりましたので、ご案内申し上げます。近年、航空宇宙・防衛分野、カーエレクトロニクス分野を中心に、各種レーダ技術の開発が活発に行われております。それに伴い、高周波デバイス技術、アンテナ技術など多くの技術革新が行われ、それらを評価する計測技術にも多くの技術革新が求められております。当シンポジウムでは、最新のレーダ技術やマイクロ波部品を様々な観点で評価、検証する為の最新の計測技術をご紹介致します。具体的には、広帯域レーダ信号生成/解析技術、最新ネットワークアナライザによる測定手法、発信器の各種評価手法、広帯域/高速ディジタイザの活用法、計測の最新の潮流であるLXI、など最新の計測技術を多面的にご紹介致します。
また、会場では、セミナで紹介する各種計測ソリューション、そして数々の新製品の展示を行います。時節柄ご多忙のこととは存じますが、万障お繰り合わせの上、ご来場賜りますようお願い申し上げます。

敬具

アジレント・テクノロジー株式会社
執行役員　電子計測本部長
梅島　正明

日時
※詳細の時間は下記を
ご参照ください。

10月12日（金）

【終了いたしました】

会　場

新宿NSビル 3Fホール

住所：	東京都新宿区西新宿2-4-1　新宿NSビル3F
交通：	ＪＲ線･京王線･小田急線･東京メトロ丸の内線新宿駅「南口・西口」より徒歩７分都営地下鉄線(新宿線)・京王新線新宿駅「新都心口」より徒歩約６分西武線(新宿線) 西武新宿駅より徒歩約１５分都営地下鉄線(大江戸線) 都庁前駅Ａ３出口より徒歩約３分

→ 会場アクセス

受講料

無料（事前申込制）

お申し込み方法

上記「日時」よりご登録下さい。
※同業他社のお申し込みはご遠慮ください。

申込締切

定員になり次第、締め切らせていただきます。

定　員

120名

主　催

アジレント・テクノロジー株式会社　電子計測本部

お申し込みに関する
お問い合わせ先

アジレント・テクノロジー（株）セミナ事務局
お問い合わせ時間：月曜日～金曜日までの9：00～17：00（祭日を除く）
e-mail：agilent@cgc.co.jp

9:00～

受付

9:30～9:45

挨拶

9:45～10:30

レーダシステムの基礎的な性能評価

講師：	弊社電子計測本部　アプリケーション・エンジニアリング部電子部品/マイクロウェーブシステムグループ　大沼　克己

本セッションではレーダシステムの性能評価に関して、主にＳ／Ｎ比に焦点を絞った基礎的な内容をご説明します。探知距離と識別率に対する要求から、レーダ方程式を用いて、受信機の雑音指数と送信パワーに対する性能要求を求めることができます。この具体的な方法について、代表的なシステム構成を元に解説します。また実際の雑音指数や送信パワーの測定法、注意点、および代表的な測定機器についてもご紹介します。レーダシステムの評価にはこの他に時間領域、スペクトラム、変調解析などの観点があり、これらについても概略をご説明します。

10:30～10:45

休憩

10:45～11:30

最新ネットワーク・アナライザによる従来のSパラメータ測定の枠を超えた、
パルスドRFおよび雑音指数測定の実現方法と高確度、高効率化のご提案

講師：	弊社電子計測本部　アプリケーション・エンジニアリング部電子部品/マイクロウェーブシステムグループ　桜井　昭寛

近年、高周波部品や機能モジュールの複雑化・高集積化がますます進み、設計・検査時の測定項目が増えてきております。これによりデバイス評価の手間・費用も増加する傾向にある反面、測定速度と確度の向上も要求されてきております。この度、ネットワーク・アナライザを用いて従来のSパラメータ測定（線形）だけではなく、非線形領域の測定まで対応できる1Boxシステムを構築しました。
本セッションでは最新のパルスドRF測定、高確度雑音指数測定を含めた実現方法のご紹介とそれぞれの測定確度、測定時間改善の手法についてご説明します。

11:30～11:45

新製品フラッシュ　今年発表した各種新製品をご紹介いたします。

11:45～12:45

ランチ

12:45～13:30

信号源のノイズ測定と位相ヒット現象の把握

講師：	弊社電子部品計測事業部　プロダクト・マネージャ　荻沼明彦

位相雑音、ＡＭ雑音の測定は、信号源の性能テストにのみならず、その発生要因を把握するうえでも重要な評価パラメータです。　また航空機等に用いられる信号源は、その外的環境（振動・ショック・温度変化）の影響による位相ヒットと呼ばれる瞬時の周波数過渡応答現象が起こることが知られており、そのランダムな現象を補足し、過渡応答時の信号源挙動を詳しく解析する重要性も高まってきています。
本セッションでは、最新のシグナルソースアナライザで実現している革新的なノイズ測定技術、および、周波数応答の時間解析技術について解説し、信号源評価の実例をご紹介します。

13:30～13:45

休憩

13:45～14:30

最新の任意波形発生器を用いたレーダ信号模擬

講師：	弊社電子計測本部　アプリケーション・エンジニアリング部電子部品/マイクロウェーブシステムグループ　大沼　克己

レーダ信号の模擬は、その要求に依って難易度は様々であり、非常に複雑な特注ハードウェアやソフトウェアを必要とする場合も珍しくありません。高機能な最新の任意波形発生器N6030A／N8241Aが持つDDS（Direct Digital Synthesis）機能、およびダイナミック・シーケンス機能を用いれば、システム開発の負担を大きく減らし、効率的に信号模擬を行うことができます。これらの詳細とシステム構成を、実例と共にご説明します。またこれらの応用として、電磁環境模擬（EMEシミュレーション）の新しい可能性に付いてもご紹介していきます。

14:30～15:00

休憩

15:00～15:45

最新のオシロスコープによるUWB信号の解析

講師：	弊社デザイン・バリデーション事業部マーケティング部　関野　敏正

UWB(ウルトラ・ワイド・バンド）無線は、商用だけでなく軍事産業においてもWPAN(Wireless Personal Area Network)におけるミリ波帯利用で数GHｚbpsを伝送するような技術の研究が行われており、非常に注目されています。このセッションでは、最新のハイ・パフォーマンス・オシロスコープを使用したUWB信号の解析についてご説明します。さらに、お客様独自の信号解析にも有効なMATLAB®を使用したフィルタリングや演算機能などをはじめ、最新のオシロスコープが提供する様々な解析機能についてもご紹介致します。

15:45～16:00

休憩

16:00～16:45

リアルタイムデータ変換と信号処理の実践
センサーを基盤としたシステム開発に於けるCOTSモジュールであるデジタイザと信号アナライザの使用事例

講師：	弊社電子計測本部　アプリケーション・エンジニアリング部自動計測グループ　森脇　達仁

近代のレーダ、電子戦、ソフトウェアラジオ等のシステムは、深いメモリと高い処理能力を持つ超広帯域デジタイザを多用しており、更にカスタマイズの容易なリアルタイム信号処理能力をも要求しております。背反する性能の進化と物理的制約の両立と高い保守性の下での拡張性と柔軟性は、スパイラル開発モデルで要求される迅速な配備性能をもたらします。本セッションでは、基本デザインとハードウェア下部構造に関してフォーカスし、先進的なセンサーを基盤として研究レベルにあるシステムを、実戦配備へと効果的に移行させる手段に関して論じます。

16:45～17:00

休憩

17:00～17:45

LXI 機能と応用例

講師：	弊社電子計測本部　アプリケーション・エンジニアリング部自動計測グループ　岩崎　守男

2005年12月に最初のLXI測定器 Agilentシステム電源 N6700Bが発表されました。以来、2年弱の間に300種類以上のLXI測定器が発表されており、今では、さまざまなテストシステムがLXI測定器だけで構築することが可能になっています。
LXI測定器を採用すると、今までには無い方法で、システム開発の効率やテストパフォーマンスを向上させることが可能です。
本セッションでは、LXI規格の概要や機能を説明するとともに、LXI測定器固有の機能を利用したテストシステムの構築例を紹介いたします。