無線セミナシリーズ：短距離無線セミナ

ご挨拶
 

拝啓　平素は格別のお引き立てを賜り厚く御礼申し上げます。
さて、去る9月に東京・大阪にて開催いたしました「次世代高速無線技術セミナ」が大好評にて終了しました。 そのためこの無線セミナをシリーズ化することになり、「無線セミナシリーズ」として今後も継続的に開催する運びとなりました。
今回のテーマは、より広く民生品レベルまで利用されている無線アプリケーションとして、 Wireless USB、Bluetooth 2.0+EDR、802.11無線LAN、そしてRFIDの技術情報、測定手法等のセミナを開催いたします。 特にWireless USBや900MHz帯のRFIDは今非常にホットなアプリケーションです。 本セミナではこの２つのアプリケーションに関する新製品情報・デモンストレーションも提供する予定です。
また規格試験の内容ももちろんながら、国内で電波を使用するのに必ず必要な技術適合試験に関しても、 それぞれのアプリケーションにおいてより詳細かつ現実的な技術情報をお伝えすることで、 お客様が実際に抱える計測上の問題点を解決するよいきっかけとなることをこころより望んでおります。
時節柄ご多忙のこととは存じますが、万障お繰り合わせの上、ご来場賜りますようお願い申し上げます。

敬具

アジレント・テクノロジー株式会社
電子計測本部マーケティングセンタ長
伊藤　由朗

開催概要
無線セミナシリーズ：短距離無線セミナ
日　時 / 会場
 ※詳細の時間は下記を
ご参照ください。		 【大阪会場】    【終了しました】
2007年1月30日（火）  ニッセイ新大阪ビル 「会議室」
  住所： 大阪府大阪市淀川区宮原３－４－３０ニッセイ新大阪ビル１３階
  交通： JR・地下鉄新大阪駅より徒歩2分
【東京会場】     【終了しました】
2007年2月2日（金）  秋葉原UDX
  住所： 東京都千代田区外神田4-14-1秋葉原ＵＤＸ南ウイング6Ｆ
  交通： JR「秋葉原」駅　電気街口より徒歩2分
受 講 料 無料（事前申込制）
お申し込み方法 上記「日時」よりご登録下さい。
※同業社からのお申込みはご遠慮願います。
申込締切 定員になり次第締め切らせていただきます。
お早めにお申し込みください。
定　員 大阪会場  100名
東京会場  140名
主　催 アジレント・テクノロジー株式会社　電子計測本部
お申し込みに関する
お問い合わせ先 		アジレント・テクノロジー（株） セミナ事務局
お問い合わせ時間：月曜日～金曜日までの9：00～17：00（祭日を除く）
※会場での無断写真撮影および資料の無断転載は堅くお断りいたします。

「無線セミナシリーズ：短距離無線セミナ」 スケジュール
13:00～13:30 受 付
13:30～14:30
Session 1  「Wireless USB(MB-OFDM) 規格試験 と電波法試験に求められる測定」
講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア　 斉藤 吉敬

UWBの使用が米国において民間に開放されたことに続き、いよいよ日本国内でも、 電波法施行規則が改正され、UWBの屋内使用が認可されました。 UWBの大きなアプリケーションとして、Wireless USBが注目を集めています。Wireless USBは、USB 2.0を無線で置き換えることを想定していますが、 広帯域な無線方式が特徴のため、非常に厳しい技術基準が求められます。
本セッションでは、まず、WiMediaで要求されるPHY Compliance & Interoperability Test（C&I Test）、 電波法で要求される技術適合証明試験について、ご説明します。
これらに対して、弊社製品とその特徴を説明しながら、ベクトル・シグナル・アナライザを使ったC&ITest方法の解説と実演、 スペクトラム・アナライザを使った技適適合証明試験の測定システムをご紹介いたします。
14:30～14:45 休憩
14:45～15:45
Session 2  「今から始める無線LAN測定」
講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア　 佐久間 洋

無線LANの普及とともに、デジタルカメラやゲーム機など様々な機器に無線LANが搭載されるようになり、 今まで無線通信とは無縁の部署でも評価や検査の実施が要求されています。 またWiMAXや802.11nなどの新しい規格は、11a/gで使用されているOFDM変調がベースになっています。
そこで本セッションではこれから無線LAN評価を始める方や、新規格に取り組む前に復習したい方を対象に、 IEEE802.11a/b/g規格の概要、変調方式、要求されるテスト項目（技適・IEEE試験）、および測定ソリューションについてご紹介いたします。
（*2006年6月開催のAMF2006で実施した内容と同じものとなります）
15:45～16:00 休憩
16:00～16:45
Session 3  「Bluetooth v2.0+EDR RF試験と測定」
講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア　 杉山 裕之

1999年、Bluetooth v1.0の仕様がリリースされてから7年が過ぎようとしています。
その間、Bluetoothは携帯電話をはじめヘッドセット、パソコン、プリンタ、デジカメ、ポータブルオーディオ機器、カーナビ、カーオーディオなど さまざまな機器に採用されています。今後も最新のBluetooth仕様であるv2.0＋EDRの技術を使用した製品が開発され、 ますます普及が進んでいくと予測されています。 それにともない、最新のBluetooth仕様に対応した製品の評価・試験の需要が急速に高まっています。
そこで、本セッションでは最新のBluetooth仕様であるv2.0＋EDRのRF試験の概要および測定ソリューションのご紹介をいたします。
16:45～17:15
Session 4  「RFID国内電波法の対応と規格信号の解析手法」
講師：弊社 電子計測本部アプリケーション・エンジニア　 砂子 光繁

近年、物流管理や携帯電話、セキュリティーなど様々な分野で利用が進んでいるRFIDは日本のみならず、 世界的に利用されている技術として認知されています。日本においてもユビキタス社会実現の重要な技術であり、 多くの企業が開発・製造を行っております。実際の製品化に目を向けると国内電波法の対応と規格信号の解析が必須となり、 例えば、UHF帯で厳しい規格要求のある電波法測定や復調信号の詳細な解析に対する知識とその対応が求められています。 本セッションでは電波法の対応と規格信号の解析に焦点をあて、両測定に対応可能なMXAスペクトラム・アナライザおよび VSAの新しいRFID変調解析オプションを組み合わせた最適な測定手法をご紹介いたします。
17:15～17:45
製品観覧